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Startseite / Produkte / Halbleitertestsysteme und Software / Testlösungen für die Zuverlässigkeit von Halbleitern

 

Testlösungen für die Zuverlässigkeit von Halbleitern
ACS für WLR
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • Interaktive Schnittstelle
  • Flexible Testsequenzierung
  • Leistungsfähiges Stress/Mess-Tool
  • Formulator für Parameteranalyse und Leitungsanpassung
  • Einfache Maus-gesteuerte Analyse
S500 SMU-per-Pin System
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • Echter paralleler SMU-per-Pin Test
  • Präzisions-Timing und Synchronisation
  • Konfigurierbar von 2 bis 44 SMUs in einem einzigen Rack
  • Manueller und automatischer Betrieb
  • Einfach erweiterbar mit Hardware, Prüfplänen und Bibliotheken
  • Kompatibel zu gängigen vollautomatischen Prober-Systemen
4200-SCS Halbleiter-Parameteranalyzer
Automated Characterization Suite (ACS) Test Systems
  • Mehrfache Ausführung von Stress/Messabläufen
  • Konform mit vielen standardmäßigen JEDEC-Testmethoden
  • Umfassende Pre-/Post-Stress/Mess-Testbibliotheken
  • Formulator für Parameteranalyse und Leitungsanpassung
  • Kalkulationstabelle mit Analysewerkzeugen
  • Umfassendes Darstellungs-Tool
 
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