Software zur Charakterisierung von Halbleitern
Unsere ACS Software (Automated Characterization Suite) ist eine leistungsfähige Lösung für die automatische Halbleiter-Charakterisierung auf Bauteil, Wafer oder Kassetten-Ebene. Integrierte ACS Testsysteme schließen die Lücke zwischen interaktiven Labor-Tools und schnellen Werkzeugen für den Produktionstest. Die ACS Basic Edition ist für einen Benchtop Parameter-Test von Bauteilen und diskreten Halbleiterbauteilen im Gehäuse optimiert und maximiert die Produktivität in der Forschung und Entwicklung. Integrierte ACS-WLR-Testsysteme (Wafer Level Reliability) erlauben eine zwei- bis fünfmal schnellere Erstellung von Lebensdauervoraussagen als mit konventionellen WLR-Testlösungen und beschleunigen so die Technologieentwicklung, Prozessintegration und Prozessüberwachung, so dass eine kürzere Time-to-Market erreicht werden kann.
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