Unsere integrierten ACS-Testsysteme (Automated Characterization Suite) sind konfigurierbar und lassen sich für unterschiedliche Anwendungen, wie den Bauteiltest, die Bauteilcharakterisierung, einen Parametertest und Zuverlässigkeitstests einsetzen. Durch die Verwendung von Hardware mit hoher Integrität von Keithley (wie SourceMeter-Instrumenten der Serie 2600A und der Serie 2400, dem Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS, Schaltsystemen der Serie 700 und dem System Switch/Multimeter der Serie 3700) sind die ACS-Systeme ideal für halb- oder vollautomatische Waferprobersysteme mit hohem Durchsatz, die sehr schnell große Datenmengen erfassen können. Die Waferprober-Automatisierungsoption ermöglicht eine einfache Kommunikation mit gängigen Prober-Systemen.