Kostenloses technisches Internet-Seminar von Keithley über die Grundlagen der ultraschnellen I-U-Bauteil-Charakterisierung

Cleveland, Ohio, 16. April 2010 * * *Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, veranstaltet am Donnerstag den 29. April 2010 ein kostenloses Internet-Seminar mit dem Titel "Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization". Im Zuge des einstündigen Seminars wird erörtert, warum die ultraschnelle Strom/Spannungs-Charakterisierung (I-U) für viele Bauteil- und Prozesstechnologien immer wichtiger wird.
Zur Anmeldung für diese um 15:00 Uhr mitteleuropäischer Sommerzeit (CEST) stattfindende Veranstaltung geht es unter: http://www.keithley.info/ultrafastIVa

Ultraschnell Strom/Spannungstests (I-U), wie gepulste I-U- und Transient-I-U-Tests, sowie Tests mit gepulster Einspeisung, erlangen in der Entwicklung von neuen Halbleitermaterialien, Prozessen und Bauteilen zunehmend Bedeutung. Zu den derzeitigen Anwendungsbereichen gehören nichtflüchtige Speicherbauteile (NVM), wie Flash- und Phasenwechselspeicher, die isotherme Charakterisierung von SOI-Bauteilen (Silicon-on-Insulator) und Verbindungshalbleitern, sowie die Untersuchung des Impulsverhaltens von neuen Materialien, wie High-K-Dielektrikas.
Das Webinar "Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization" bietet einen Überblick über Mess-Hardware und Setups, einschließlich der Verkabelung zum Probersystem. Das Webinar diskutiert zudem typische Einsatzbereiche und Test-Setups sowie häufige Fehlerursachen. Anschließend werden einige praktische Beispiele für Bauteilmessungen aufgezeigt.
Das Seminar spricht Studenten, Forscher und Ingenieure an, die sich mit der Charakterisierung von Materialien, Prozessen und Bauteilen befassen. Darüber hinaus ist es auch für Labor-Manager, die sich über dieses neue Messverfahren informieren wollen, sowie Ingenieure, die Zuverlässigkeitsstudien über Bauteile und Materialien durchführen (WLR, ESD, Latch-up, etc.), interessant.

Über den Sprecher

"Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization" wird von Lee Stauffer, Senior Staff Technologist der Semiconductor Measurements Group von Keithley Instruments in Cleveland, Ohio, präsentiert. Vor seiner Tätigkeit bei Keithley war Stauffer in der Entwicklung von Satellitenkommunikationssystemen, sowie in der Entwicklung von Anlagen und Produkten für Halbleiter-Fabs tätig.

Anmeldung

"Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization" wird am Donnerstag, den 29. April 2010 um 15:00 CEST (1 p.m. GMT) gesendet. Die Teilnahme ist kostenlos, vorab ist eine Registrierung unter: http://www.keithley.info/ultrafastIVa erforderlich.

Über Keithley

Mit einer Messtechnikerfahrung von mehr als 60 Jahren gehört Keithley Instruments zu den weltweit führenden Unternehmen für elektrische Testinstrumente und -systeme von DC bis RF. Die Produkte des Unternehmens werden in der Produktion, Prozessüberwachung, Produktentwicklung und Forschung eingesetzt. Zu den Kunden des Unternehmens gehören Wissenschaftler und Ingenieure in der weltweiten Elektronikindustrie, die sich mit Materialforschung, der Charakterisierung von Halbleiterbauteilen und Wafern sowie der Produktion von Endprodukten wie elektronischen Baugruppen oder portablen drahtlosen Geräten befassen. Keithley bietet seinen Kunden eine Kombination aus Präzisionsmesstechnik und umfassender Anwendungserfahrungen, die Qualität, Durchsatz und Fertigungsausbeute verbessern können.