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Cleveland, Ohio, Dezember 2006 * * * * Keithley Instruments (NYSE: KEI) stellt die Version V5.2 seiner Keithley Interactive Test Environment Software (KTE) für das Parametric Test System der Serie S600 vor. KTE V5.2 bietet eine Reihe von Funktionen, mit denen sich der Durchsatz beim Test von Schaltungsmaterialien mit HF-Frequenzen dramatisch erhöhen lässt und auch Verbesserungen bei parallelen Testroutinen für den Einsatz im Labor und in der Fertigung erreicht werden. Außerdem lassen sich durch das Softwareupdate auf KTE V5.2 entscheidende Verbesserungen hinsichtlich der Vereinfachungen von Verwendung und Tests erzielen. Weitere Informationen über die KTE V5.2 Software von Keithley unter: http://www.keithley.com/pr/067.
Diese neuste KTE-Softwareversion verdeutlicht erneut das Bestreben von Keithley zur kontinuierlichen Verbesserung und Wiederverwendung bestehender Investitionen, wodurch sich zudem die Testkosten reduzieren lassen. Keithley erweitert die Möglichkeiten entsprechend den steigenden Anforderungen der Anwender, wie die Durchführung umfassenderer Tests früher im Prozess und die Erfassung statistisch relevanter HF-Daten für die Kalibrierung von Modellen.
KTE von Keithley ist eine leistungsfähige Entwicklungs- und Ausführungsumgebung für den Wafertest, die den Testingenieur durch die Entwicklung eines Testplans führt. Der Anwender kann mittels vordefinierter Bibliotheken individuelle elektrische Tests auf Subsite-Ebene erstellen und dann Parameter und Verbindungen definieren.
KTE V5.2 wurde speziell für das Parametric Test System der Serie S600 von Keithley entwickelt. Die Serie S600 wird für unterschiedlichste Tests, wie für die Prozesssteuerung, die Abstimmung und Optimierung von Prozessen und Anlagen, den Test von Wafern sowie zur Bauteilmodellierung und Charakterisierung eingesetzt. Das S600 ist seit mehr als fünf Technologie-Generationen in der Halbleiterindustrie im Einsatz, eine vergleichsweise sehr lange Zeitdauer für ein derartiges System, was den Anwendern eine Reduzierung der Testkosten ermöglicht.
Verbesserte Unterstützung paralleler Tests
Zu den wichtigsten Verbesserungen der KTE Version V5.2 gehört die verbesserte Unterstützung paralleler Tests. Diese sind eine wichtige Möglichkeit zur Verbesserung des Durchsatzes und Reduzierung der Testkosten bei Halbleitern, da dadurch während Prozessentwicklung mehr Daten in der gleichen Testzeit oder in der Serienfertigung die gleichen Datenmengen in kürzerer Zeit erfasst werden können. Zu den neuen Funktionen in KTE V5.2 gehört auch eine volle Unterstützung für PT_Execute, eine Softwareroutine, die eine schnelle Evaluierung von parallelen gegenüber seriellen Tests erlaubt. Ältere Evaluierungsmethoden erfordern komplizierte Anleitungen, die viel Zeit und Entwicklungsressourcen benötigen. PT_Execute kann mit wenigen Eingaben gestartet werden und verkürzt damit drastisch die Entwicklungszeit und reduziert Folgekosten. Eine weitere Verbesserung ist FMI (Force-Measurement Interlock), eine kombinierte Firmware/Software-Lösung, mit der sich Nebensprechen, Störungen und Messwertschwankungen bei den Testergebnissen reduzieren lassen.
Verbesserter RF-Test
Die Erweiterungen im Bereich des RF-Tests in der neuen KTE V5.2 beinhalten eine verbesserte LRM-Kalibrierung, wodurch diese nun sehr viel nützlicher als bestehende Verfahren und andere vergleichbare Angebote im Markt ist, da korrelierende Messungen und Kalibrierung in einer Fertigungsumgebung ermöglicht werden. Diese Verbesserungen ergänzen das Parametric Test System S680 von Keithley mit HF-Messmöglichkeiten, wobei das System sogar gleichzeitig genaue DC- und HF-Messungen durchführen kann. Dadurch ist es sowohl für den Labor-, als auch für den Produktionseinsatz geeignet.
Neben der vereinfachten Fehlersuche wurde auch die Überwachung der Kalibrierung der Site-Touchdowns zur Voraussage der Abnutzung der Testspitzen verbessert. Das HF-Testbrowser Software-Paket ermöglicht eine massive und rasche Reduzierung von großen Datenmengen, um wichtige und interessante HF-Parameter zu bestimmen. Dies ist eine wichtige Funktion für HF-Ingenieure, um eine Prozesssteuerung in Echtzeit zu ermöglichen.
Leistungsfähige Unterstützung neuer Sub-Systeme
KTE V5.2 wurde auch hinsichtlich der Unterstützung von Instrumenten-Sub-Systemen verbessert, wodurch sich ein höherer Testdurchsatz des Gesamtsystems ergibt. Damit lässt sich der Einsatz verschiedener neuer Sub-Systeme optimieren, darunter ein neues LCR-Meter, das einen bis zu doppelt so hohen Durchsatz bei Kapazitätsmessungen ermöglicht, ein Spektrumanalysator (wird zunehmend für Benchmark-Schaltungsanalysen genutzt) und die Pulse/Pattern-Generatoren der Serie 3400 von Keithley. Die Pulse/Pattern-Generatoren der Serie 3400 eignen sich für die immer häufiger bei der Charakterisierung von Halbleiter-Bauteilen und in der Materialforschung verwendeten Pulstests. Diese Anwendungen werden hauptsächlich durch die stetige Reduzierung der Bauteilgröße und durch die zunehmende Arbeitsgeschwindigkeit vieler elektronischer Bauteile und Materialien immer wichtiger.
Einfache Verwendung
Die KTE V5.2 wurde auch hinsichtlich einer einfacheren Verwendung deutlich verbessert. Die Verbesserungen des KRM (Keithley Recipe Manager) ermöglichen das Bearbeiten und Handling mehrere Rezepte auf der Basis eines Rezepts (Testroutine), wobei die erforderlichen Eingriffe der Programmierer minimiert wurden. Weitere Merkmale beinhalten eine Hervorhebung des gesuchten Textes bei der Suchfunktion und eine zusätzliche Undo-Funktion bei der Eingabe von Daten. Weitere Informationen zu der neuen KTE V5.2 Testumgebung oder anderen Halbleiter-Testlösungen von Keithley finden Sie unter: http://www.keithley.com/pr/067 oder über die Website des Unternehmens unter: www.keithley.com.
Über Keithley
Mit einer Messtechnikerfahrung von mehr als 60 Jahren gehört Keithley Instruments zu den weltweit führenden Unternehmen für elektrische Testinstrumente und -systeme von DC bis RF. Die Produkte des Unternehmens werden in der Produktion, Prozessüberwachung, Produktentwicklung und Forschung eingesetzt. Zu den Kunden des Unternehmens gehören Wissenschaftler und Ingenieure in der weltweiten Elektronikindustrie, die sich mit Materialforschung, der Charakterisierung von Halbleiterbauteilen und Wafern, sowie der Produktion von Endprodukten wie elektronischen Baugruppen oder portablen drahtlosen Geräten befassen. Keithley bietet seinen Kunden eine Kombination aus Präzisionsmesstechnik und umfassender Anwendungserfahrungen, die Qualität, Durchsatz und Fertigungsausbeute verbessern können.
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Die genannten Erzeugnisse und Firmenbezeichnungen sind Warenzeichen oder
Handelsnamen der jeweiligen Unternehmen.
