Keithley erweitert Sourcemeter®-Linie mit Messmöglichkeiten für kleine Ströme für schnelle, kompakte und wirtschaftliche parametrische Tests

Hochauflösendes Foto unter: http://www.ggcomm.com/KEI/2635_2636.JPG

Cleveland, Ohio, 13. September 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, stellt zwei neue Erweiterungen für die SourceMeter® Instrumente der Serie 2600 vor, mit der sich fortschrittliche und kostengünstige Lösungen für parametrische Analysen und Tests von Halbleitern realisieren lassen. Die Modelle 2635 und 2636 bieten eine neue und einzigartige Möglichkeit zur Durchführung von parametrischen Analysen mit Auflösungen von bis zu 1fA (10^-15 Ampere), was oftmals für Halbleiter-, Optoelektronik- oder Nanotechnologie-Bauteile benötigt wird. Auf Grund der mehrkanaligen Instrumenten-Architektur lassen sich zudem um 50 Prozent niedrigere Kosten gegenüber konventionellen Mainframe-basierenden Source-Measure-Lösungen erreichen. Mit dem Test Script Prozessor (TSPTM) und dem TSP-LinkTM-Bussystem können mit diesen neuen Instrumenten problemlos schnelle Testsysteme realisiert werden, die ideal für die Forschung, Charakterisierung, Wafer-Sortierung, Zuverlässigkeitstests, Produktions-überwachung und viele andere Testanwendungen geeignet sind. Weitere Informationen über die SourceMeter-Instrumente der Serie 2600 finden Sie unter: www.keithley.com/pr/075.

Die Modelle 2635 und 2636 ermöglichen kostengünstige DC- und Impuls-Tests von wenigen Femtoampere und Mikrovolt bis zu 200V/1,5A. Sie erlauben einen Einsatz mit oder ohne PC und erreichen Testgeschwindigkeiten, die bis zu viermal höher sind als typische Mainframe-basierende Source-Measure-Lösungen. Zudem beinhalten sie einen PC-ähnlichen Mikroprozessor, der eine einfache Programmierung und eine unabhängige Ausführung selbst komplexer Testprogramme (Skripts) ermöglicht, die Stimuli, Messungen sowie eine Steuerung des Testablaufs mit bedingten Programmverzweigungen umfassen können. Da sie einfach mit anderen Instrumenten in automatische Systeme integriert werden können, stellt dies eine hervorragende Lösung für Bauteil- und Halbleiterhersteller für den Test auf Wafer-Ebene sowie von gehäusten Bauteilen dar. Gleichzeitig sind diese Geräte durch die niedrigen Kosten sehr attraktiv für den Einsatz in der Forschung und an Universitäten unterschiedlichster Fachrichtungen, die eine schnelle und einfache Lösung zur I-V-Charakterisierung von Bauteilen und Materialien benötigen.

Einfache Skalierbarkeit bei niedrigen Folgekosten

Die Modelle 2635 und 2636 ermöglichen den Anwendern eine deutliche Reduzierung der Testkosten bei Bauteilen mit geringen bis mittleren Pinzahlen oder mehreren Bauteilen sowie Materialproben. Sie beinhalten fünf Präzisionsinstrumente in einer Box: SMU (Source-Measure Unit), DMM (Digitalmultimeter), Spannungsquelle, NF-Impulsgenerator und Arbitrary Waveform Generator. Diese Funktionen lassen sich per TSP steuern, wodurch voll programmierbare Sequenzen in das Instrument geladen und ausgeführt werden können. Damit ist keine zeitraubende Kommunikation mit dem PC oder ein PC-Overhead erforderlich, so dass eine entscheidende Durchsatz-Steigerung bei voll flexibler Steuerung und hoher Anpassbarkeit an unterschiedlichste Testsituationen erreicht wird.

Neben TSP steht mit der TSP-Link Master/Slave-Verbindung von Keithley eine schnelle Schnittstelle mit geringer Latenzzeit zu anderen TSP-basierenden Instrumenten zur Verfügung, die eine einfache Softwaresteuerung mehrerer Geräte oder Instrumente ermöglicht. Ein großer Vorteil ist die einfache Skalierbarkeit der Testsysteme. Mehrere einkanalige (Modell 2635) und zweikanalige (Modell 2636) Geräte können nahtlos ohne ein Host-Grundgerät integriert werden. Diese Mainframe-lose Skalierbarkeit erlaubt Systeme mit bis zu 32 Kanälen pro GPIB-Adresse, bei einer Minimierung der Kosten, des Platzbedarfs und des Zeitaufwands, auch wenn später weitere Kanäle hinzugefügt werden. Durch den Einsatz ausgewählter Produkte der Serie 2600 können die Anwender auf zwei bis drei SMU-Modelle standardisieren, um Tests mit Impulsen von bis zu 10A oder DC-Strömen von bis zu 3A in verschiedensten Anwendungen abzudecken.

Kürzere Testzeiten

Alle TSP-basierenden Systeme von Keithley können Tausende von vordefinierten Bauteiltests speichern und ausführen, die Vergleiche mit Grenzwerten, Pass/Fail-Entscheidungen, eine Bauteilsortierung etc. enthalten können, sowie bei der Testausführung mit oder ohne PC-Controller arbeiten. Überdies lassen sich über digitale I/Os direkt Prober, Handler und andere Instrumente steuern, während sich per TSP-Link schnelle automatisierte Tests über mehrere Kanäle und Instrumente ohne GPIB-Verkehr ausführen lassen. Dies erlaubt eine Reduzierung der Testzeiten um einen Faktor 10 gegenüber älteren Lösungen bzw. einen Faktor 2 bis 4 beim Bauteiltest.

Werden die Modelle 2635 und 2636 mit den neuen Switch/Multimeter-Instrumenten der Serie 3700 von Keithley kombiniert, die ebenfalls TSP und TSP-Link enthalten, eignen sich diese Lösungen für eine noch breitere Palette von schnellen Anwendungen. Gemeinsam stellen diese beiden Produktserien grundlegende Bausteine zur Verfügung, die voll integrierte leistungsfähige Schalt- und mehrkanalige I-V-Messlösungen ermöglichen. Die Testingenieure können damit kostengünstige ATE-Systeme realisieren, die im Hinblick auf einen hohen Durchsatz in Anwendungen wie dem Stresstest von Halbleitern und dem Funktionstest von gehäusten Bauteilen optimiert sind.

Einfache Erstellung von Testsystemen

Bislang war die Erstellung von Charakterisierungs- und ATE-Systemen mit mehreren Instrumenten für die Forschung, Entwicklung und den schnellen Produktionstest eine große Herausforderung. Keithley löst dieses Problem durch zwei kostenlose Softwarewerkzeuge, welche die Systemeinbindung der Serie 2600 SourceMeter Instrumente entscheidend vereinfacht. Für Forschungs- und Entwicklungsanwendungen sowie die Kurvenaufzeichnung ermöglicht die LabTracerTM 2.0 Software von Keithley eine Steuerung von bis zu acht SourceMeter-Kanälen für automatische Tests, ohne dass eine Programmierung erforderlich ist. Mit dieser Software lassen sich einfach und problemlos SourceMeter-Kanäle konfigurieren, Bauteilparametertests ausführen und Testdaten ausgeben.

Für schnelle Anwendungen in der Fertigung wird der Testskript-Prozessor in einer leicht verständlichen BASIC-ähnlichen Programmiersprache programmiert, die in Echtzeit auf dem Instrument abläuft. Die intuitive, einfach einsetzbare Schnittstelle ist zu allen populären Programmiersprachen kompatibel. Keithley stellt integrierte Testskripts für die Erzeugung von Sweeps, Impulsen, Signalverläufen und gängigen Bauteiltests zur Verfügung. Eine Reihe von Testskripts wird mit dem Instrument mitgeliefert, während weitere kostenlos unter www.keithley.com heruntergeladen werden können. Diese vorbereiteten Testskripts können direkt genutzt werden oder einfach auf die individuellen Anforderungen angepasst werden, so dass die Produktionssysteme schneller als jemals zuvor einsatzbereit sind.

Die Anwender können außerdem kundenspezifische Testskripts mit Hilfe des kostenlosen Programmier-Tools Test Script Builder erstellen, das den Anwender bei der Erstellung, Änderung, dem Debugging und der Speicherung von TSP-Skripts mit seiner einfachen Kommandosprache unterstützt. Die kundenspezifischen Skripts können dann vom PC auf das Master-SourceMeter-Instrument geladen und im nichtflüchtigen Speicher abgespeichert werden. Es stehen 16 Megabyte nichtflüchtiger Speicher für bis zu 50.000 Zeilen TSP-Code und mehr als 100.000 Messwerte zur Verfügung. Studien haben gezeigt, dass durch den Einsatz von TSP und der entsprechenden Software im Vergleich zu bisherigen Generationen von Instrumenten mit Testsequenzierung die Systementwicklungsdauer um 50 % bis 75 % reduziert werden kann.

Keithley kann auch schlüsselfertig integrierte Testsysteme liefern, welche die Instrumente der Serie 2600 enthalten und über die Automated Characterization Suite (ACS) Software gesteuert werden. Die Instrumente der Serie 2600 ermöglichen Lösungen mit einer skalierbaren Source-Measure-Kanalzahl und für unterschiedlichste High-Speed-Halbleitertestanwendungen, wie Zuverlässigkeitstests auf Wafer-Ebene, eine On-Wafer Parametersortierung und eine automatische Charakterisierung. Zum Beispiel können Messungen, die beispiellose Messgeschwindigkeiten wie bei On-the-Fly-NBTI benötigen, sequenziell oder parallel mit Testplänen auf Bauteil-, Wafer- oder Kassetten-Ebene durchgeführt werden. Die Flexibilität und Anwenderfreundlichkeit von ACS ermöglicht eine volle Steuerung der Systeminstrumente, stellt ein leistungsfähiges Hilfsprogramm zur Wafer-Beschreibung zur Verfügung, erlaubt eine halb- und vollautomatische Prober-Steuerung, eine Testplanautomatisierung und eine umfassende Ergebnisanalyse. ACS nutzt die hohe Flexibilität der Serie 2600, so dass derart automatische Systeme nur von Keithley verfügbar sind.

Verfügbarkeit

Die Lieferzeit des einkanaligen Modell 2635 und des zweikanaligen Modell 2636 liegt bei rund sechs Wochen. Weitere Informationen über die System-SourceMeter-Instrumente der Serie 2600 von Keithley erhalten Sie unter www.keithley.com/pr/075 oder unter: www.keithley.com.

Über Keithley

Mit einer Messtechnikerfahrung von mehr als 60 Jahren gehört Keithley Instruments zu den weltweit führenden Unternehmen für elektrische Testinstrumente und -systeme von DC bis RF. Die Produkte des Unternehmens werden in der Produktion, Prozessüberwachung, Produktentwicklung und Forschung eingesetzt. Zu den Kunden des Unternehmens gehören Wissenschaftler und Ingenieure in der weltweiten Elektronikindustrie, die sich mit Materialforschung, der Charakterisierung von Halbleiterbauteilen und Wafern sowie der Produktion von Endprodukten wie elektronischen Baugruppen oder portablen drahtlosen Geräten befassen. Keithley bietet seinen Kunden eine Kombination aus Präzisionsmesstechnik und umfassender Anwendungserfahrungen, die Qualität, Durchsatz und Fertigungsausbeute verbessern können.

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