Keithley stellt Linux-basierende parametrische Testsysteme vor

Cleveland, Ohio, 19. Juli 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, stellt eine Reihe von Erweiterungen für die Parametertestsysteme der Serie S600 vor. Die wichtigste Verbesserung ist eine Migration des embedded Steuerrechners des Testsystems auf das Betriebssystem Linux. Damit verfügt der Computer über ein stabileres Betriebssystem und eine längere Nutzungsdauer, so dass die Anwender nicht mehr neue Workstations sowie Upgrades der Software- und Hardwareressourcen qualifizieren müssen. Durch ein Firmware-Upgrade wird außerdem ein höherer Durchsatz gegenüber den früheren UNIX-basierenden Systemen erreicht. Die neue Softwarelizenzierung nutzt nun für jeden Tester einen Hardwareschlüssel in der Form eines USB-Sticks, der von einer Workstation auf eine andere umgesteckt werden kann und somit kürzere Reparaturzeiten ermöglicht. Weitere Informationen über die Parameter-Testsysteme von Keithley finden Sie unter: http://www.keithley.com/products/semiconductor/#1.

Mit den RF- und Parallel-Testmöglichkeiten, in Verbindung mit geeigneten Teststrukturen und den Probe Cards, ist das Modell S680 von Keithley das derzeit einzige verfügbare RF-Testsystem, das simultan DC- und RF-Messungen mit einer einzigen Sondenkontaktierung durchführen kann. Dadurch wird ein deutlich höherer Durchsatz als bei anderen Methoden erreicht, welche die DC- und HF-Messungen nacheinander ausführen müssen.

Kompatibilität

Das System Modell S680 mit dem neuen Linux-Controller lässt sich auch zusammen mit älteren Systemen im Prüffeld einsetzen. Für Kunden, die im Prüffeld komplett auf Linux umsteigen möchten, sind entsprechende Feld-Upgrades verfügbar. Auf jeden Fall arbeitet aber ein neu installierter Linux-Controller nahtlos mit bestehenden parametrischen Testsystemen unter Solaris zusammen. Zum Beispiel:

• Recipes: Format und Inhalte sind für alle, die den Keithley Recipe Manager nutzen, gleich.
• Quellcode der Anwenderbibliothek: Auf der neuen Plattform werden die gleichen Quelldateien verwendet.
• KTXE: Beide Plattformen nutzen die gleiche Engine.

Alle neuen Systeme der Serie S600 von Keithley erhalten die neuste Softwareversion KTE V5.2.2, die ebenfalls als Feld-Upgrade verfügbar ist. Die neuen Systeme beinhalten Red Hat Enterprise Linux WS Version 4, Update 4 und einen neuen x86-basierenden Computer. Neben den RF- und Parallel-Test-Optionen sind diese Systeme auch mit einer adaptiven Testoption oder einer 300 mm Wafer-Automatisierungsoption erhältlich. Da die Bedienoberfläche (GUI) mit der von früheren Systemversionen vergleichbar ist, wird gegebenenfalls nur eine minimale zusätzliche Ausbildung des Bedienpersonals benötigt.

Verfügbarkeit

Keithley erstellt entsprechend der jeweiligen Konfiguration individuelle Angebote für ein neues System oder einen Feld-Upgrade. Upgrades und neue Systeme sind ab September 2007 verfügbar.

Weitere Informationen zu den Parameter-Testsystemen der Serie S600 oder anderen Halbleitertestlösungen von Keithley sind unter: http://www.keithley.com/products/semiconductor oder unter: www.keithley.com verfügbar.

Über Keithley

Mit einer Messtechnikerfahrung von mehr als 60 Jahren gehört Keithley Instruments zu den weltweit führenden Unternehmen für elektrische Testinstrumente und -systeme von DC bis RF. Die Produkte des Unternehmens werden in der Produktion, Prozessüberwachung, Produktentwicklung und Forschung eingesetzt. Zu den Kunden des Unternehmens gehören Wissenschaftler und Ingenieure in der weltweiten Elektronikindustrie, die sich mit Materialforschung, der Charakterisierung von Halbleiterbauteilen und Wafern sowie der Produktion von Endprodukten wie elektronischen Baugruppen oder portablen drahtlosen Geräten befassen. Keithley bietet seinen Kunden eine Kombination aus Präzisionsmesstechnik und umfassender Anwendungserfahrungen, die Qualität, Durchsatz und Fertigungsausbeute verbessern können.

# # #