Keithley gibt Entwicklungspartnerschaft mit französischem CEA Leti Laboratory im Bereich der Nanotechnologie- und Halbleiter-Material-Forschung bekannt

Cleveland, Ohio, Grenoble, Frankreich, 17. Juli 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von elektronischer Messtechnik, meldet dass mit CEA Leti, einem weltweit führenden Halbleiterentwicklungslabor, eine Entwicklungspartnerschaft (JDP - Joint Development Partnership) rund um Testtechnologie für Halbleiterbauteil-werkstoffe vereinbart wurde. Im Zuge der JDP werden Keithley und CEA Leti Methoden für die Charakterisierung moderner Halbleitermaterialien und Bauteile erforschen, die DC-, HF- und RF-Signale bei Mikro- und Nanostrukturen nutzen. CEA Leti wird in unterschiedlichsten Forschungsprojekten RF-Halbleitertest-lösungen von Keithley einsetzen, um das Wissen über die Leistungsfähigkeit von Halbleiterbauteilen zu erweitern und zu verbessern.

CEA Leti ist ein CEA-Labor mit Sitz in Frankreich und eines der wichtigsten europäischen Forschungszentren für angewandte Elektronik. Mehr als 85 Prozent der Aktivitäten umfassen Forschungsaufgaben mit externen Partnern. CEA Leti beschäftigt rund 1.000 Mitarbeiter, arbeitet mit 200 Partnern zusammen und verfügt über ein Portfolio von patentierten 1.300 Erfindungen.

Keithley hat sich seit der Vorstellung des ersten parametrischen Testers, dem DC/RF Parameter-Testsystem Modell S680, das einen RF-Produktionstest auf Wafer-Ebene ermöglicht, eine führende Position im Bereich zuverlässiger RF-Halbleitermessungen erarbeitet. Das Testsystem Modell S680 kombiniert parallele Messmöglichkeiten mit einer hohen DC-Empfindlichkeit sowie einer Auflösung im Femtoampere-Bereich und Messfunktionen für RF-S-Parameter bis 40GHz. Dadurch werden sowohl ein hoher Durchsatz, als auch niedrige Folgekosten für die Messung von Technologien bei 65 nm und darunter erreicht.

"Da die Halbleitertechnologie bei den RF-Signalen an die derzeitigen technischen Grenzen stößt und hinsichtlich der Bauteilminiaturisierung den Nanometerbereich erreicht, muss die Messtechnik nicht nur Schritt halten können, sondern sogar den führenden Forschern die Möglichkeit geben diese Bauteile zu bauen und zu testen", so Mark Hoersten, Vice President Business Management von Keithley. "Unsere Partnerschaft mit CEA Leti ist eine einzigartige Gelegenheit zur Entwicklung neuer Messtechnologien für einen Bereich in dem viele Technologien unserer Kunden zusammenlaufen - Halbleiter, RF/Wireless und Nanotechnologie."

"Die Fähigkeit elektrische Messungen mit hoher Qualität durchzuführen ist entscheidend, um die Initiativen 'More Moore' und 'More than Moore' voranzubringen", meint Olivier Demolliens, Leiter der Nanotech Division bei CEA Leti. "Unsere Elektronikspezialisten benötigen genauste Daten, um unsere Bauteile zu verstehen, zu modellieren und zu verbessern. Durch die Partnerschaft mit Keithley können wir die Messtechnik weiterentwickeln und verbessern, so dass die Anforderungen der Forscher und Industrieexperten erfüllt werden. Die Zusammenarbeit mit einem führenden Messtechnikunternehmen wie Keithley ist zudem ein großer Gewinn für das CEA Leti."

Parallel zum Keithley-CEA Leti JDP hat CEA Leti selbst seine eigenen Investitionen in die Nanotechnologie verstärkt und kürzlich das neue MINATEC®-Innovationszentrum eröffnet. CEA Leti ist einer der Haupttreiber für die Gründung des MINATEC®, dem wichtigsten europäischen Centre of Excellence für Mikro- und Nanotechnologie, die mehr als 4.000 Spezialisten aus Forschung, Industrie und Lehre in Grenoble/Frankreich zusammenbringt. CEA Leti will mit MINATEC® die Aktivitäten der Spezialisten aus Forschung, Industrie und Lehre im Bereich der Mikro- und Nanotechnologien auf einem einzigen Standort konzentrieren und die Entwicklung von gemeinsamen Initiativen ermöglichen, so dass das Tempo der Innovation und industriellen Wertschöpfung erhöht und beschleunigt werden kann.

Neben seiner Parameter-Testarchitektur spielt auch das ausgezeichnete Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS von Keithley eine wichtige Rolle in der Bauteilcharakterisierung, da sich dieses Tool besonders für den Impulstest von sehr kleinen und empfindlichen Bauteilen eignet. Das für den Laboreinsatz konzipierte Modell 4200-SCS enthält voll integrierte DC- und Impuls-Messmöglichkeiten und ermöglicht durch die kompletten Anwendungspakete schlüsselfertige Lösungen. Das Pulse I-V Paket für das Modell 4200-SCS beinhaltet Messtechnik, Verbindungen und Software, mit dem die Halbleiter-Ingenieure ultrakurze Impulsmessungen bei kleinen Transistoren direkt auf dem Wafer durchführen können.

Über Keithley

Mit einer Messtechnikerfahrung von mehr als 60 Jahren gehört Keithley Instruments zu den weltweit führenden Unternehmen für elektrische Testinstrumente und -systeme von DC bis RF. Die Produkte des Unternehmens werden in der Produktion, Prozessüberwachung, Produktentwicklung und Forschung eingesetzt. Zu den Kunden des Unternehmens gehören Wissenschaftler und Ingenieure in der weltweiten Elektronikindustrie, die sich mit Materialforschung, der Charakterisierung von Halbleiterbauteilen und Wafern sowie der Produktion von Endprodukten wie elektronischen Baugruppen oder portablen drahtlosen Geräten befassen. Keithley bietet seinen Kunden eine Kombination aus Präzisionsmesstechnik und umfassender Anwendungserfahrungen, die Qualität, Durchsatz und Fertigungsausbeute verbessern können.

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