Keithley stellt verbesserte Puls- und Puls I-V Testmöglichkeiten für Halbleiterbauteile vor
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Keithley stellt verbesserte Puls- und Puls I-V Testmöglichkeiten für Halbleiterbauteile vor Cleveland, Ohio, April 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) hat eine neue Version der Hardware und Software für sein Halbleiter-Charakterisierungs-System Modell 4200-SCS vorgestellt und damit die Pulstestmöglichkeiten des Modells 4200-SCS deutlich erweitert. Das für den Laboreinsatz konzipierte System integriert somit DC- und Puls-Messmöglich-keiten, wobei durch die Anwendung von Komplettpaketen auch spezielle Messaufgaben ohne aufwendige Programmierung gelöst werden können. Eine verbesserte Pulsgenerator-Karte und eine neue Oszilloskop-Karte stellen neue leistungsfähige Testmethoden an modernsten Halbleitern zur Verfügung. Durch entscheidende Verbesserungen der 4200-PIV Option und zwei neue Applikationsmöglichkeiten konnte zudem der Einsatz der DC- und Pulshardware und -Software in neue Bereiche, wie zum Beispiel Test von Flash-Speichern, High-Power RF-Bauteilen und moderner Halbleitermaterialien, ausgeweitet werden. Weitere Informationen hierzu finden Sie auf der Website http://www.keithley.com/pr/069. Verbesserte Testhardware
Weiterhin bietet ein neues leistungsfähigeres Netzteil mehr Konfigurations-möglichkeiten. Jetzt können in ein Chassis des Modells 4200-SCS bis zu vier separate Pulsgeneratorkarten eingesetzt werden. Da jedes Modell 4205-PG2 über zwei Kanäle verfügt, kann ein Testsystem 4200-SCS bis zu acht Pulskanäle enthalten. Darüber hinaus ist der neue Pulsgenerator 4205-PG2 mit einem Trigger-Eingang für eine externe Trigger-Quelle ausgestattet, so dass mehrere Pulskarten in einem System mit einer relativen Genauigkeit von 10ns synchronisiert werden können. Anwendungslösungen für besondere technologische Herausforderungen
Eine weitere neue Anwendungslösung ist das 4200-FLASH Paket, eine leistungsfähige sofort einsetzbare Lösung zum Test von Flash-Speichern. Es bietet die drei wichtigsten Tests für Flash-Speicher: Charakterisierung, Lifetime, und Disturb Test. Das Anwendungspaket schaltet automatisch zwischen DC- und Pulstest um, ohne dass eine externe Matrix notwendig ist. Durch das eingebaute langlebige Ausgangsrelais erhöht sich die Geschwindigkeit von Lifetime-Tests, da das bei vielen anderen Flash-Testern benötigte externe Solid-State-Relais entfallen kann. Außerdem vereinfachen spezieller Code und die im 4200-FLASH Paket enthaltenen Projekte die Einrichtung und Durchführung von Flash-Speicher-Tests. Für die Charakterisierung moderner CMOS-Bauteile ist das Modell 4200-PIV-A Paket verfügbar, eine bedeutende Verbesserung des erfolgreichen 4200-PIV Pakets von Keithley. Zu den Verbesserungen zählen hier eine bessere Auflösung bei kleinen Strömen bis zu 100nA und eine einfachere Schnittstelle für kombinierte Puls- und DC-Tests sowie nützliche graphische Schnittstellen. Kontinuierliche Weiterentwicklung der Software
Bestehende Kunden können die neuen Anwendungslösungen einfach nachrüsten. Verfügbarkeit
Über Keithley Mit einer Messtechnikerfahrung von mehr als 60 Jahren gehört Keithley Instruments zu den weltweit führenden Unternehmen für elektrische Testinstrumente und -systeme von DC bis RF. Die Produkte des Unternehmens werden in der Produktion, Prozessüberwachung, Produktentwicklung und Forschung eingesetzt. Zu den Kunden des Unternehmens gehören Wissenschaftler und Ingenieure in der weltweiten Elektronikindustrie, die sich mit Materialforschung, der Charakterisierung von Halbleiterbauteilen und Wafern, sowie der Produktion von Endprodukten wie elektronischen Baugruppen oder portablen drahtlosen Geräten befassen. Keithley bietet seinen Kunden eine Kombination aus Präzisionsmesstechnik und umfassender Anwendungserfahrungen, die Qualität, Durchsatz und Fertigungsausbeute verbessern können. * * * Die genannten Erzeugnisse und Firmenbezeichnungen sind Warenzeichen oder Handelsnamen der jeweiligen Unternehmen.
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Zuletzt verändert: 2007-04-16