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Keithley veranstaltet Nano Days Online-Konferenz

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Cleveland, Ohio, März 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von messtechnischen Lösungen, veranstaltet vom 24. April bis 26.

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Keithley Instruments GmbH
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Keithley veranstaltet Nano Days Online-Konferenz


Cleveland, Ohio, März 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI), ein führender Anbieter von messtechnischen Lösungen, veranstaltet vom 24. April bis 26. April 2007 mit Nano Days ein einzigartige Online-Konferenz zum Thema Nanotechnologie. Im Zuge dieser virtuellen Konferenz mit dem Motto „VISUALIZE, CHARACTERIZE, REALIZE: The Future of Nanotechnology” werden führende Forscher von Universitäten und aus der Industrie modernste Messtechnik für Nanometer-Bauteile und Materialien vorstellen. Weitere Informationen zu den Vorträgen der Konferenz oder die Möglichkeit zur Anmeldung finden sie unter: www.keithley.com/nanodays. Die Teilnahme an der dreitägigen Veranstaltung ist kostenlos.

Während der Nano Days werden sechs audio-visuelle Live-Seminare abgehalten. An jedem der drei Tage finden zudem zwei Seminare in Form von Vorträgen statt. Jedes Seminar dauert ungefähr 45 Minuten und beinhaltet einen interaktiven Frage- und Antwort-Teil während des Seminars. Die Seminar-Themen und Referenten sind:

  • Moderne Teilchenstrahlmethoden zur Nano-Charakterisierung und Analyse
    Dr. Jens Greiser, FEI Company
  • In-situ-Korrelation von mechanischen Eigenschaften, Verformungs-verhalten und elektrische Charakterisierung von Materialien mittels Conductive Nanoindentation
    Ryan C. Major, Ph.D, Sr. Staff Scientist, Hysitron, Inc.
  • Vermeidung von Eigenerwärmungseffekten bei Nanometer-Bauteilen
    Jonathan Tucker, Keithley Instruments, Inc.
  • Unterstützung für Ihr Mikroskop: Charakterisierung von Nanostrukturen
    G. Frayne, S Kleindiek, B. Volbert, Kleindiek Nanotechnik
  • Elektrische Eigenschaften von Zinkblende-Wurtzit-biphasic-GaN-Nanodrähten und nanoFETs
    Hr. Benjamin W. Jacobs und Dr. Virginia M Ayres, Michigan State University
  • Messanforderungen von Nano-Architekturen
    Dr. Kang L. Wang, Director of MARCO Focus Center on Functional Engineered Nano Architectonics (FENA) und Director des Western Institute of Nanoelectronics (WIN)

Keithley Instruments ist ein weltweit führender Anbieter von elektrischen Messtechnik-Lösungen für die Nanotechnologie. Die Nanotechnologie ist ein wichtiger neuer Forschungsbereich, der bedeutende Fortschritte in der Elektronik, Materialwissenschaft, Biotechnik, sowie bei alternativen Energie-quellen und vielen anderen Anwendungen verspricht. Durch die einzigartige Leistungsfähigkeit ermöglichen die Messwerkzeuge von Keithley den Nano-technologieforschern die Beobachtung von Phänomenen, die noch vor wenigen Jahren nicht zu untersuchen waren. Die Enthüllung der Geheimnisse im Nanometer-Bereich beschleunigt damit den Übergang von der Nanotechnologie-forschung zur kommerziellen Produktion.

Weitere Informationen zu den Nano Days, einschließlich Zeiten und Inhalte der kostenlosen Seminare, sowie eine Möglichkeit zur Anmeldung finden Sie unter: www.keithley.com/nanodays. Weitere Informationen über die Nanotechnologie-produkte und Ressourcen von Keithley finden Sie unter http://www.keithley.com/nano oder www.keithley.com.

Über Keithley

Mit einer Messtechnikerfahrung von mehr als 60 Jahren gehört Keithley Instruments zu den weltweit führenden Unternehmen für elektrische Testinstrumente und -systeme von DC bis RF. Die Produkte des Unternehmens werden in der Produktion, Prozess-überwachung, Produktentwicklung und Forschung eingesetzt. Zu den Kunden des Unternehmens gehören Wissenschaftler und Ingenieure in der weltweiten Elektronikindustrie, die sich mit Materialforschung, der Charakterisierung von Halbleiterbauteilen und Wafern, sowie der Produktion von Endprodukten wie elektronischen Baugruppen oder portablen drahtlosen Geräten befassen. Keithley bietet seinen Kunden eine Kombination aus Präzisionsmesstechnik und umfassender Anwendungserfahrungen, die Qualität, Durchsatz und Fertigungsausbeute verbessern können.

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Die genannten Erzeugnisse und Firmenbezeichnungen sind Warenzeichen oder Handelsnamen der jeweiligen Unternehmen.







Zuletzt verändert: 2007-04-16