Hynix bestellt bei Keithley weitere Halbleitertestsysteme des Typs S680DC/RF

Cleveland, Ohio, März 2005 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE:KEI) meldet, dass das Unternehmen von Hynix Semiconductor, Inc einen Auftrag über die Lieferung mehrerer Parameter-Testsysteme des Typs S680 DC/RF erhalten hat. Hynix ist ein führender koreanischer Halbleiterhersteller und einer der weltweit größten DRAM-Produzenten (Dynamic Random Access Memory). Der Auftrag umfasst Tester zur Kontrolle des Fertigungsprozesses von 300 mm Wafern, die im Fertigungswerk M3A von Hynix in Icheon/Korea produziert werden. Darüber hinaus sind auch Tester zur Kontrolle des Fertigungsprozesses von 200 mm Wafern im Werk M8/9 von Hynix enthalten. Die Systeme werden bei Hynix die Produktion von Flash-Speichern, DRAM-, SRAM- (Synchronous Random Access Memory) und System-IC-Bauteilen überwachen.

"Hynix bestellt weiterhin unsere Tester des Typs S680DC/RF, da die Ingenieure damit gute Erfahrungen gemacht haben und überzeugt sind, dass unsere Systeme sowohl eine erstklassige technische Leistungsfähigkeit, als auch niedrigere Folgekosten bieten", meint William Yang, Country Manager Korea bei Keithley. "Die Kombination von hohem Testdurchsatz, überlegener Messintegrität und hoher Rentabilität ist einer der wichtigsten Gründe, warum das Modell S680DC/RF weltweit so verbreitet ist."

"Die Nachbestellungen bei den Systemen S680DC/RF durch die Halbleiter-Fabs rechtfertigen unsere Investitionen in dieses einzigartige Produkt, das führende Messmöglichkeiten bietet, trotzdem aber einfach einzusetzen ist", sagt Mark Hoersten, Vice President for Business Development bei Keithley. "Die einzigartige Architektur gewährleistet überlegene Messergebnisse an der Sondenspitze und damit eine bessere Prozesskontrolle bei FLASH-Speicherbauteilen und bietet flexible Upgrade-Möglichkeiten für neue Prozesse und Bauteile."

Das 2003 vorgestellte DC/HF-Parameter-Testsystem S680 DC/RF von Keithley wurde speziell für den parametrischen Test moderner Logik-, Speicher- und Analog-ICs auf Wafer-Ebene entwickelt. Das Testsystem kombiniert eine hohe DC-Empfindlichkeit, eine Auflösung im Femtoampere-Bereich und die Messung von HF-s-Parametern bis 40GHz mit parallelen Messmöglichkeiten. Dadurch werden sowohl ein hoher Durchsatz, als auch niedrige Folgekosten für die Messung von Technologien bei 65 nm und darunter erreicht.

Weitere Informationen: Weitere Informationen zum Parameter-Testsystem S680 DC/RF oder zu anderen Halbleiter-Testlösungen von Keithley finden Sie unter: http://www.keithley.com.

Zum Unternehmen. Keithley Instruments, Inc. (Cleveland, OHIO, USA), ein weltweit führendes Messtechnik-Unternehmen, entwickelt, fertigt und vertreibt elektronische Mess- und Testgeräte, Hard- und Software für die PC-gestützte Messwerterfassung, Steuerung, Regelung, Prozesskontrolle, Prüfstandsteuerung sowie individuelle Komplett-Systemlösungen. Die Produkte werden weltweit in Fertigungs-, Forschungs- und Entwicklungsabteilungen der Industrie, an Universitäten und öffentlichen Forschungseinrichtungen eingesetzt. Ein besonderer Schwerpunkt liegt bei der Fertigungs- und Qualitätskontrolle, speziell im Test von elektronischen Bauteilen und Telekommunikations-Endprodukten sowie in der Halbleiterindustrie. Die Geräte von Keithley Instruments genießen bereits seit 1946 weltweit einen hervorragenden Ruf - sie sind für Messungen von elektrischen, thermischen und sich ändernden kleinsten Signalen unübertroffen in Genauigkeit, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit. Speziell für den Bereich Halbleiter-Fertigung ist das Unternehmen ein bedeutender Zulieferer im Bereich "Front End / Rear End"-Test. Keithley Instruments hat eigene Niederlassungen in Deutschland, Großbritannien, Frankreich, Benelux, Schweiz, Italien, Japan, Taiwan (R.O.C.) und der VR China. Die europäische Zentrale befindet sich in Germering bei München.