Keithley stellt Handbuch für parallele parametrische Tests vor

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Cleveland, Ohio, Februar 2007 * * * Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) stellt mit "Parallel Test Technology: The New Paradigm for Parametric Testing" ein Handbuch zum Thema parametrischer Test von Halbleitern vor. Das 60-seitige Handbuch bietet eine Übersicht über die neuste Testverfahren, wie parallele parametrische Tests, eine Strategie für parametrische Tests auf Wafer-Ebene mit einer gleichzeitigen Durchführung von mehreren Tests auf mehreren Scribe-Line-Teststrukturen und unterstützt Halbleiter-Fabs dabei einen maximalen Testdurchsatz und niedrigste Testkosten zu erreichen. Das Handbuch ist kostenlos erhältlich unter: http://ggcomm.com/Keithley/PPTHandbook.html.

Das Handbuch umfasst folgende Themen:

• Grundlagen paralleler parametrischer Tests
• Implementierung paralleler Tests
• Nutzung paralleler parametrischer Tests mit bestehenden Hardware-Lösungen
• Entwicklung von Teststrukturen für parallele Tests

Das "Parallel Test Technology" Handbuch von Keithley enthält darüber hinaus auch ein Kapitel mit beispielhaftem Programmcode für typische parallele Tests mit pt_execute, sowie einen Glossar mit gängigen Begriffen aus dem Bereich des parallelen parametrischen Tests.

Ein kostenloses Exemplar des Parallel Test Technology Handbook oder weitere Informationen über die parametrischen Halbleitertest- und Messsystemen, Datenerfassungsprodukte oder Test- und Messlösungen von Keithley erhalten Sie unter http://ggcomm.com/Keithley/PPTHandbook.html oder aber direkt vom Unternehmen unter: www.keithley.com.

Über Keithley

Mit einer Messtechnikerfahrung von mehr als 60 Jahren gehört Keithley Instruments zu den weltweit führenden Unternehmen für elektrische Testinstrumente und -systeme von DC bis RF. Die Produkte des Unternehmens werden in der Produktion, Prozessüberwachung, Produktentwicklung und Forschung eingesetzt. Zu den Kunden des Unternehmens gehören Wissenschaftler und Ingenieure in der weltweiten Elektronikindustrie, die sich mit Materialforschung, der Charakterisierung von Halbleiterbauteilen und Wafern, sowie der Produktion von Endprodukten wie elektronischen Baugruppen oder portablen drahtlosen Geräten befassen. Keithley bietet seinen Kunden eine Kombination aus Präzisionsmesstechnik und umfassender Anwendungserfahrungen, die Qualität, Durchsatz und Fertigungsausbeute verbessern können.

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