Neue Karten für das Multi-Channel I-V Testsystem Modell 4500-MTS erweitern die Funktionalität und reduzieren die Testkosten

Neue Karten für das Multi-Channel I-V Testsystem Modell 4500-MTS erweitern die Funktionalität und reduzieren die Testkosten

Cleveland, Ohio, Januar 2004 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) hat zwei neue mehrkanalige Source-Measure-Testkarten als Erweiterung des Multi-Channel I-V Testsystems Modell 4500-MTS vorgestellt. Die Modelle 4510- und 4511-QIVC (Quad I-V Card) beinhalten jeweils vier Source-Measure-Kanäle, so dass sich mit allen neun Steckplätzen des PCI Grundsystems Modell 4500-MTS Lösungen mit bis zu 36 I-V-Messkanälen realisieren lassen. Das Modell 4500-MTS und die Vierfach-I-V-Karten können Messungen in einem Bruchteil der Zeit und zu deutlich niedrigere Kosten vergleichbarer Rack-and-Stack-Systeme ausführen.

Das Modell 4500-MTS lässt sich für automatische Tests in Produktionstest-Umgebungen mit mehreren Test-Heads (Multi-DUT) einsetzen, wie beispielsweise für Stresstests, Lebensdauertests und die allgemeine Bauteilcharakterisierung. Normalerweise werden die schnellen Source-Measure-Möglichkeiten genutzt, um I-V-Kurven zu erstellen, den Widerstand von Testobjekten wie MEMSs oder Schutzdioden zu messen oder um andere passive oder aktive Bauteile zu charakterisieren. Das System lässt sich auch als mehrkanalige Stromversorgung für die Einspeisung und Messung von Spannungen oder Strömen bei Funktionstests von Bauteilen wie RFICs und Opto-ICs einsetzen. Um die I-V- und Stromversorgungsmöglichkeiten zu erweitern, lassen sich verschiedene andere Instrumente von Keithley und anderen Anbietern mit dem 4500-MTS kombinieren.

Anwendungshintergrund
Das Modell 4500-MTS kann selbst schwierige Messprobleme lösen, wie beispielsweise einen gleichzeitigen Test mehrerer Bauteile oder mehrerer Kanäle eines Bauteils bei unterschiedlichsten Versuchsbedingungen. In einer typischen Anwendung können ein Dutzend oder mehr Bauteile in den Testadapter geladen werden, wobei die elektrischen Daten von Tausenden von Source-Measure-Testpunkten für jedes Bauteil erfasst werden. Der Einsatz mehrerer Rack-and-Stack-Instrumente ist in derartigen Anwendungen sehr kostenintensiv und erlaubt aufgrund der Datenkommunikationen über GPIB nur eine langsame Datenerfassung.

Im Gegensatz zu anderen modularen Testsystemen wurde das Multi Channel I-V Testsystem Modell 4500-MTS für einen niedrigen Störpegel und für die Einspeisung hoher Ströme optimiert, während eine gut-kontrollierte Umgebung für Messungen mit hoher Empfindlichkeit erhalten bleibt. Die Herstellungskosten lassen sich somit ohne Kompromisse bei den Qualitätszielen oder dem Fertigungsdurchsatz reduzieren.

Produktdetails
Jeder Kanal einer Vierfach-I-V-Karte der Modelle 4510 oder 4511 beinhaltet einen Subkanal mit einer leistungsfähigen Stromquelle und einem 5½-stelligen A/D-Wandler zur Messung der Reaktion des Testobjekts auf die Stimuli. Das Modell 4510 verfügt über drei Ausgangsbereiche mit ±30mA, ±100mA und ±500mA. Das Modell 4511 verfügt über drei Ausgangsbereiche mit ±100mA, ±300mA und ±1,0A. Ansonsten sind die Karten identisch einschließlich der Subkanäle mit Spannungsquellen für ±10VDC. Jede Karte verfügt zudem über einen Mikrocontroller mit Echtzeit-Betriebssystem und integriertem Messwertspeicher, so dass autonom Testsequenzen abgearbeitet oder über den Trigger-Bus zu den Aktivitäten anderer Karten der Serie 4500 synchronisiert werden können. Jeder Unterkanal verfügt über mechanische Relais, die den Ausgang und die Messschaltung vom Testobjekt isolieren können, wodurch ein Multiplexing zwischen dem Subkanal der Stromquelle und dem Subkanal der Spannungsquelle ermöglicht wird.

Die Karten weisen gegenüber den früheren Vierfach-I-V-Karten der Modelle 4500 eine erweiterte Funktionalität auf. Zudem wurde die maximale Ausgangsspannung des Spannungsquellen-Subkanals von 5 V auf 10 V erhöht. Die Empfindlichkeit für Strommessungen wurde bei diesen Subkanälen mit einem 10µA-Bereich erweitert. Diese Bereichserweiterung und der niedrige Störpegel sind entscheidend für die Messung hoher Widerstände und von Leckströmen (d.h. bei einer Berechnung über R=V/I). Die Vierfach-I-V-Karten der Modelle 4510 und 4511 eignen sich auch für die neuen Immediate-Mode-Messmöglichkeiten des Systems. Die Immediate-Mode-Messungen sind ideal, wenn beim Test eine konstante Überwachung der Durchlassspannung und eine Anpassung des Treiberstroms erforderlich ist.

Wenn für die Testanwendung nicht alle neun Steckplätze mit Karten des Typs 4510/4511 belegt werden, können die restlichen Steckplätze der offenen PCI-Plattform des Modells 4500-MTS für andere PCI-Karten benutzt werden, die somit eine zusätzliche Funktionalität und eine kundenspezifische Anpassung ermöglichen. Überdies lässt sich das System durch die modulare Natur schnell auf neue Testanforderungen in dem sehr dynamischen Test- und Messtechnikmarkt anpassen. Das Ergebnis ist ein kompaktes, schnelles, hoch integriertes System, das sich einfach auf kundenspezifische Testanforderungen anpassen lässt und das gegenüber anderen Testsystemen deutlich niedrige Kosten pro Kanal verursacht.

Für das System stehen Treiber mit Unterstützung für LabVIEW, Visual Basic, LabWindowsTM/CVI und andere Entwicklungsumgebungen zur Verfügung, die dll-Routinen (Dynamic Link Library) aufrufen können. Der Treiber umfasst Funktionen, welche die Steuerung einer großen Zahl von Kanälen vereinfachen. Zudem braucht sich der Anwender nicht um die Details der Programmierung von embedded Controllern kümmern und muss keine neue Sprache lernen oder mit dieser arbeiten.

Verfügbarkeit
Die Vierfach-I-V-Karten Modelle 4510 und 4511 sind ab sofort verfügbar. Weitere Informationen über die Vierfach-I-V-Karten Modelle 4510 und 4511, das Multi-Channel I-V Testsystem Modell 4500-MTS oder andere Testlösungen von Keithley sind verfügbar über: www.keithley.com.

Zum Unternehmen
Keithley Instruments, Inc. (Cleveland, OHIO, USA), ein weltweit führendes Messtechnik-Unternehmen, entwickelt, fertigt und vertreibt elektronische Mess- und Testgeräte, Hard- und Software für die PC-gestützte Messwerterfassung, Steuerung, Regelung, Prozesskontrolle, Prüfstandsteuerung sowie individuelle Komplett-Systemlösungen. Die Produkte werden weltweit in Fertigungs-, Forschungs- und Entwicklungsabteilungen der Industrie, an Universitäten und öffentlichen Forschungseinrichtungen eingesetzt. Ein besonderer Schwerpunkt liegt bei der Fertigungs- und Qualitätskontrolle, speziell im Test von elektronischen Bauteilen und Telekommunikations-Endprodukten sowie in der Halbleiterindustrie. Die Geräte von Keithley Instruments genießen bereits seit 1946 weltweit einen hervorragenden Ruf - sie sind für Messungen von elektrischen, thermischen und sich ändernden kleinsten Signalen unübertroffen in Genauigkeit, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit. Speziell für den Bereich Halbleiter-Fertigung ist das Unternehmen ein bedeutender Zulieferer im Bereich "Front End / Rear End"-Test.

Keithley Instruments hat eigene Niederlassungen in Deutschland, Großbritannien, Frankreich, Benelux, Schweiz, Italien, Japan, Taiwan (R.O.C.) und der VR China. Die europäische Zentrale befindet sich in Germering bei München.

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