Flachbildschirme
Die hochgenauen Quellen- und Messlösungen für kleine Ströme von Keithley sind ideal für die Messanforderungen von modernen und leistungsfähigen LCD- und OLED-Anzeigen geeignet. Keithley integriert diese Instrumente in standardmäßige und kundenspezifische Testsysteme für die Forschung und Herstellung von Flachbildschirmen (FPD), aber auch für die Entwicklung neuer Materialien, die Optimierung von Fertigungsverfahren, die Verbesserung der Fertigungsausbeute oder der Zuverlässigkeit von neuen Display-Bauteilen. Die Messleistung der Systeme von Keithley ist auf die spezifischen Display-Technologien, wie Aktiv- oder Passiv-Matrix-LCDs, amorphe oder polykristalline Niedrigtemperatur-Silizium-TFTs, Polymer- und Small-Molekule-PLEDs und OLEDs, sowie auch auf andere moderne Technologien, optimal zugeschnitten.
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Bauteil-Charakterisierung
- Focus Solutions
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Amorphe LTPS-Dünnfilm-Transistoren - I-U-, C-U-Messungen
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OLED-Materialforschung - Großer Dynamikbereich, hohe Testgenauigkeit, schnelle Messungen
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Kapazitätswert von Speicherelementen, FET-Gatterladung, Gatter-Leckstrom, TFT-Durchbruchspannung
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Funktionstest
- Dokumente
- White Paper
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- Focus Solutions
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Test von Treiber-ICs für LCDs und passive OLEDs - Spannungseinspeisung, Strommessung; Stromeinspeisung, Spannungsmessung
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Test von Aktiv-Matrix TFT-OLEDs und Pixel-Arrays - IDDQ-Test von LTPS-Treiber-ICs
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Test von passiven OLED-Matrix-Arrays - Kurzschlüsse und Unterbrechungen in Zeilen/Spalten, ITO - spezifischer Widerstand
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Materialforschung
- Dokumente
- White Paper
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- Focus Solutions
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Organische Materialien - Leckstrom, Durchbruchspannung in Sperrrichtung, Ladungs-Charakterisierung
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Halbleiter - Messungen des spezifischen Widerstands
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Halbleiter - Stresstest für Zuverlässigkeit
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SiliziumSi-Halbleiter - Gatterkapazität (Ladungsspeicherung)
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Prozessüberwachung (TEG)
- Produkte
- Dokumente
- White Paper
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- Focus Solutions
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LTPS TFT/Treiber -Abnahmetest am Ende der Fertigungslinie - Transistoren (Vt), Dioden, Kondensatoren, Widerstände, Gatterlaufzeit
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Gatter/Poly - MOSCAP GOI, ECD, Vt
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Neue Technologien - polykristallines Niedrig-Temperatur-Silizium AM-LCD/OLED (TEG)
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Zuverlässigkeits-/Lebensdauer-/Burn-In-/Stresstests
- Dokumente
- White Paper
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- Focus Solutions
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Beschleunigter Test unter erhöhten Belastungen (AST) - Spannungsversorgung, Überwachung der Temperatur, Messung mehrere Testobjekte
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Lebensdauer - Temperatur- und Luftfeuchtigkeitsmessung, verteilte/ferngesteuerte Kommunikation, lange Lebensdauer
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Tests zur Qualitätssicherung