Computer und Peripheriegeräte
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In der Computer-Industrie herrscht ein hoher Konkurrenzdruck, für die Hersteller der unterschiedlichsten Grundgeräte und Periphere ist daher vor allem ein kostengünstiger Produktionstest mit hoher Geschwindigkeit entscheidend. Die Testlösungen von Keithley für diese Branche reichen von der Licht-Strom-Spannungs-Charakterisierung (LIV) von VCSELs für Massenspeichergeräte, bis hin zum beschleunigten Test unter erhöhter Beanspruchung und dem Burn-in von Stromversorgungen, wobei sich Testengpässe vermeiden lassen und die Kapazität der Peripheriehersteller erhöht werden kann, ohne dass die Fertigungsmöglichkeiten deutlich ausgeweitet werden müssen.
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- Burn-in, Beschleunigter Stresstest
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- Model 7708 40-Ch, Diff Mux Module w/ Automatic CJC and Screw Terminals (for Models 2700, 2701, and 2750)
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- Model 2400 General-Purpose SourceMeter w/ Measurements up to 200V and 1A, 20W Power Output
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- Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System - Leading-Edge Pulse Capability Integrated with Precision DC Measurement for the 65nm Node and Beyond
- S400 Series Parametric Test System
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- Model 7702 40-Ch, Diff Mux Module w/ Screw Terminals (for Models 2700, 2701, and 2750)
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- Unterbrechungsfreie Stromversorgungen (UPS)
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- Model 7702 40-Ch, Diff Mux Module w/ Screw Terminals (for Models 2700, 2701, and 2750)
- Model 7705 40-Ch, Single-Pole Control Module (for Models 2700, 2701, and 2750)