Direkt zum Inhalt
Warenkorb
|
Anmeldung
|
Mitglied werden
|
Weltweite Standorte
|
FOREN
|
Kontakt
Sektionen
PRODUKTE
SUPPORT
BIBLIOTHEK
AKADEMIE
VERANSTALTUNGEN
UNTERNEHMEN
QUICK LINKS
Schnell-Angebot
Auswahlhilfen
Vertriebsbüros
Wie bestellen?
FOREN
DEMO CENTER
Kontakt
PRODUKTE
ONLINE DEMO
NEWS & EVENTS
DC/AC-Instrumente & Systeme
Audio-Analysatoren
Stromquellen
Breiter Anwendungsbereich
Hohe Leistungsfähigkeit
Digitalmultimeter
Anwendungsspezifisch
Breiter Anwendungsbereich
Hohe Leistungsfähigkeit
DMM/Schaltsystem
Messungen mit hoher Empfindlichkeit
Messgerät für kleine Spannungen (Nanovoltmeter)
Messgeräte für kleine Ströme (Picoamperemeter)
AC/DC-Messgerät für kleine Widerstände (Mikro-Ohmmeter)
Messgerät für hohe Widerstände (Elektrometer/Ohmmeter)
Spezielle Instrumente und Systeme
Test von Optoelektronik
Temperatur-Steuerung
Test des Hall-Effekts
Test von Airbags
Spannungsquellen
Breiter Anwendungsbereich
Hochspannung
Anwendungsspezifisch
Signalgeneratoren
ARB und Impulsgeneratoren
Pattern-Generatoren
Source-Measure-Einheiten und SourceMeter-Instrumente für Strom und Spannung
SMUs von 20W bis 100W für den Arbeitstisch
SMUs mit 20W und fA-Auflösung
SMUs von 20W bis 100W für Systemanwendungen
SMUs von 200W bis 2kW (gepulst)
DC-Stromversorgungen
DC-Stromversorgungen zur Batteriesimulation
DC-Stromversorgungen mit hohen Spannungen
Programmierbare DC-Stromversorgungen
Schaltsysteme
RF/Mikrowelle
Halbleiter/geringer Leckstrom
Integriertes DMM/Schaltsystem
Universell
Halbleitertestsysteme und Software
Automatische Integrierte Testsysteme
Software zur Charakterisierung von Halbleitern
ACS-Systeme
ACS Basic Edition
ACS für WLR
Parameter-Analysator für Halbleiter
ACS Basic Edition
4200-SCS Halbleiter-Parameteranalyzer
Parametrisches Testsystem für Halbleiter
S530 Basic
S530 Low Current
S530 High Voltage
Testlösungen für die Zuverlässigkeit von Halbleitern
ACS für WLR
S500 SMU-per-Pin System
4200-SCS Halbleiter-Parameteranalyzer
Source Measure Units (SMUs) für Halbleiter
System-SourceMeter-Instrumente Serie 2600
SourceMeter Instrumente der Serie 2400
Halbleiter-Schaltsysteme
Halbleiter-Matrix-Karten
Schaltmatrix für kleine Ströme und Grundgeräte
Datenerfassung
Analoger Ausgang
PCI
Digitale I/O
USB
PCI
Multifunktionell
PCI
USB
Datenlogger
Zubehör
IEEE-488/GPIB-Schnittstellen
PCI
IEEE-Kabel und Adapter
USB
KPCI/KUSB
Halbleiter-I/O-Module und Baseboards
Karten mit Schraubanschluss
MB-Serie Signalaufbereitung
Kabel für Steckkarten
Steckverbinder/Adapter/Werkzeuge
Elektrometer-Software
Testadapter
Messleitungen und Tastköpfe
Trigger Link-Zubehör
Trigger-Zubehör
Bausätze zur DIN-Schienenmontage für die Datenerfassung
Bausätze für Adapter, Kabel und Halteeinrichtungen
Computerzubehör
Montagezubehör für abgesetze Vorverstärker
Transportkoffer
Scanner- und Schalt-Optionen
Bench-Kits
Leistungsteiler
Kabel
Racks, 19"-Einbausatz und Gehäuse
Rollwagen
Keithley Dienstleistungen
Produktunterstützung
Demo Produkteigenschaften
DC/AC-Instrumente & Systeme
Strom-/Spannungsquellen/Messprodukte
Schaltsysteme
Serie 3700 System-Schaltlösung/Multimeter
Serie 2700 Integrierte Schaltsysteme
Halbleitersysteme
Serie 2600A System-SourceMeter(TM)-Instrumente
Modell 4200-SCS Halbleitersystem
Datenerfassung
KUSB-3100 Multifunktionelle Datenerfassung
Zubehör
Modell 2001 Leistungsfähiges 7½stelliges DMM
Modell 2002 Leistungsfähiges 8½stelliges DMM
Software
Test Script Builder Softwarewerkzeug
ACS Basic Edition
Gemeinsame Messtechnik-Seminarreihe von Keithley Instruments und Tektronix in sechs deutschen Städten
Keithley erweitert Messmöglichkeit der Parameter-Testsysteme der Serie S530
Keithley stellt High Voltage System SourceMeter® Instrument vor
Keithley erweitert Halbleiter-Testsoftware in den Bereichen Zuverlässigkeitsprüfung und Leistungshalbleiter
APS Applied Physics Symposium • USA
Boston, MA • Feb 27 – 29, 2012
ICMTS 2012 • USA
San Diego, CA • March 19 – 22, 2012
IRPS 2012 • USA
Anaheim, CA • April 17 – 19, 2012
PVSC Photovoltaic Specialist Conference • USA
Austin,TX • June 4 – 7, 2012
